Guangtongxin yanjiu (Jan 2000)
用可变孔径法测试研究单模光纤的有效面积
Abstract
光纤的有效面积是评价单模光纤性能指标的一个重要参数。但到目前为止 ,国内对这一参数的测试研究尚未见报道。本文介绍用可变孔径法测试出各种折射率剖面结构的单模光纤的远场和近场分布 ,以及这些光纤的有效面积。并在实验测试的基础上 ,验证了 ITU- T文件中有关光纤有效面积与模场直径间的关系。同时 ,对目前的各种新型的G.655光纤的有效面积进行了较深入的测试研究。
Guangtongxin yanjiu (Jan 2000)
光纤的有效面积是评价单模光纤性能指标的一个重要参数。但到目前为止 ,国内对这一参数的测试研究尚未见报道。本文介绍用可变孔径法测试出各种折射率剖面结构的单模光纤的远场和近场分布 ,以及这些光纤的有效面积。并在实验测试的基础上 ,验证了 ITU- T文件中有关光纤有效面积与模场直径间的关系。同时 ,对目前的各种新型的G.655光纤的有效面积进行了较深入的测试研究。